Informace o společnosti
Vyhledávání v API rejstříků je dočasně pozastaveno
API testProjekty v MSSF
Reg. č. | Název projektu | Místo realizace | Stav | CZV | Dotace | CV |
---|
CZ.01.1.02/0.0/0.0/15_030/0010401 | Projekt na ochranu práv průmyslového vlastnictví - NenoVision s.r.o. | 582786 | PP42 | 490000 | 490000 | |
CZ.01.1.02/0.0/0.0/17_115/0012729 | Rozšířené 3D mapy povrchů | 0 | PP42 | 320000 | 320000 | |
CZ.01.1.02/0.0/0.0/17_205/0015058 | AFM topografie - LiteScope | 582786 | PP42 | 320000 | 320000 | |
CZ.01.1.02/0.0/0.0/17_205/0015059 | Metrologická charakterizace mikroskopu atomárních sil | 582786 | PP42 | 220000 | 220000 | |
CZ.01.1.02/0.0/0.0/18_215/0019149 | Metodika měření lokálních elektrických vlastností pomocí LiteScope | 582786 | PP42 | 320000 | 320000 | |
CZ.01.1.02/0.0/0.0/18_215/0019476 | Charakterizace funkčních nanomateriálů pomocí korelovaních technik zařízením Litescope | 0 | PP42 | 390000 | 390000 | |
CZ.01.1.02/0.0/0.0/20_358/0023778 | Korelativní měření magnetických vlastností povrchů | 582786 | PP42 | 450000 | 450000 | |
Dotace - PRV 2014+
Dotace - PRV 2007+
Dotace - MS2014+
Více jen pro přihlášené